Abstract
Se realizaron medidas de curvas características de corriente-voltaje (I-V) a diferentes temperaturas en condensadores ferroeléctricos basados en películas delgadas de Pb(Zr0.52Ti0.48)O3 (PZT) con electrodos inferiores de SrRuO3 (SRO) y electrodos superiores de platino (Pt). Los electrodos de SRO se depositaron sobre substratos de SrTiO3 (100) utilizando la técnica Sputtering DC a alta presión de oxigeno. La película de PZT fue crecida utilizando la técnica de magnetrón sputtering RF en oxígeno puro. Las medidas de histéresis P-E de condensadores de diferentes áreas, de 5.0×10-4 cm2 a 6.5×10-3 cm2 y con un espesor de 40 nm, mostraron un claro comportamiento histerético con polarización remanente alrededor de 30 µC/cm2 a temperatura ambiente. A partir de las curvas I-V se obtuvo medidas de conductancia, las cuales mostraron una dependencia parabólica respecto al voltaje de polarización indicando tunelamiento electrónico.
| Original language | Spanish (Colombia) |
|---|---|
| Pages (from-to) | 237-240 |
| Number of pages | 4 |
| Journal | Revista De La Academia Colombiana De Ciencias Exactas, Físicas Y Naturales |
| State | Published - 2005 |